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著者名陳斌, 陳君, 関口隆史, Takasumi Ohyanagi, Akimasa Kinoshita, Hirofumi Matsuhata, Hajime Okumura.
タイトルElectrical and Optical Properties of Stacking Faults in 4H-SiC Devices
会議名DRIP XIII
発表年2009
言語English
外部での文献参照

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