SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

Angle-resolved analysis of surface band bending in InxGa1-xN films by hard X-ray photoemission spectroscopy

著者角谷 正友, ロザック ミカエル, 上田 茂典, S. Liu, 吉川 英樹, B. Shen, X. Wang, サン リウエン.
会議名LEDIA '13
発表年2013
言語Japanese

▲ページトップへ移動