HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Angle-resolved analysis of surface band bending in InxGa1-xN films by hard X-ray photoemission spectroscopy)角谷 正友, ロザック ミカエル, 上田 茂典, S. Liu, 吉川 英樹, B. Shen, X. Wang, サン リウエン. LEDIA '13. 2013年04月23日-2013年04月25日.NIMS著者角谷 正友上田 茂典吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-26 20:48:48 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:30:55 +0900