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(Angle-resolved analysis of surface band bending in InxGa1-xN films by hard X-ray photoemission spectroscopy)

角谷 正友, ロザック ミカエル, 上田 茂典, S. Liu, 吉川 英樹, B. Shen, X. Wang, サン リウエン.
LEDIA '13. 2013年04月23日-2013年04月25日.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-02-26 20:48:48 +0900 更新時刻: 2018-06-05 13:30:55 +0900

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