HOME > 口頭発表 > 書誌詳細磁気光学イメージングを用いた超電導薄膜面内の臨界電流密度評価(2)(In-plane critical current density distribution analysis of superconducting thin films using magneto-optical imaging (2))宇都宮 銀汰, 大井 修一, 立木 実, 松本 明善, 井上 昌睦. 第108回 低温工学・超電導学会研究発表会. 2024年11月25日-2024年11月27日.NIMS著者大井 修一立木 実松本 明善Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2024-12-12 03:17:59 +0900 更新時刻: 2024-12-12 03:17:59 +0900