HOME > 公開特許出願 > 書誌詳細[公開特許出願] イオンの測定装置及びそれを用いた点欠陥の位置検出方法2019-08-29. 特開2019145255号 (Google Patents) , 特許7016096号NIMS著者土佐 正弘宮内 直弥板倉 明子作成時刻 :2023-07-22 21:45:59 +0900 更新時刻 :2023-07-22 21:45:59 +0900
