HOME > その他の文献 > 書誌詳細二次イオン質量分析を用いた酸化亜鉛薄膜のキャラクタリゼーション羽田 肇, 坂口 勲, 齋藤 紀子, 大橋 直樹, 菱田 俊一. 真空 50 [2] 123-127. 2007.https://doi.org/10.3131/jvsj.50.123 NIMS著者坂口 勲大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-11-20 10:46:03 +0900 更新時刻: 2026-09-07 07:59:04 +0900
