HOME > その他の文献 > 書誌詳細二次イオン質量分析を用いた酸化亜鉛薄膜のキャラクタリゼーション羽田 肇, 坂口 勲, 齋藤 紀子, 大橋 直樹, 菱田 俊一. 真空 50 [2] 123-127. 2007.https://doi.org/10.3131/jvsj.50.123 NIMS著者羽田 肇坂口 勲大橋 直樹菱田 俊一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-11-20 10:46:03 +0900更新時刻: 2024-12-15 08:15:17 +0900
