HOME > Misc > Detail二次イオン質量分析を用いた酸化亜鉛薄膜のキャラクタリゼーション羽田 肇, 坂口 勲, 齋藤 紀子, 大橋 直樹, 菱田 俊一. 真空 50 [2] 123-127. 2007.https://doi.org/10.3131/jvsj.50.123 NIMS author(s)SAKAGUCHI, IsaoOHASHI, NaokiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2020-11-20 10:46:03 +0900 Updated at: 2025-10-26 06:23:48 +0900
