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著者名	Peng Wang, Angus I. Kirkland, Peter D. Nellist, Adrian J. D’Alfonso, Andrew J. Morgan, Leslie J. Allen, Ayako Hashimoto, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Masayuki Shimojo.
タイトル	Atomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope
掲載誌名	Microscopy and Microanalysis 20 [S3] 376-377
出版社	Cambridge University Press (CUP)
出版年	2014
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1017/s1431927614003602
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