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Analysis of indium diffusion profiles based on the Fermi-level effect in single-crystal zinc oxide

Tsubasa Nakagawa, Kenji Matsumoto, Isao Sakaguchi, Masashi Uematsu, Hajime Haneda, Naoki Ohashi.
Japanese Journal of Applied Physics 47 [10] 7848-7850. 2008.

NIMS著者


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    作成時刻 :2016-05-24 15:36:57 +0900 更新時刻 :2020-11-16 23:07:23 +0900

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