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A controllable and efficient method for the fabrication of a single HfC nanowire field-emission point electron source aided by low keV FIB milling

Nanoscale 12 [32] 16770-16774. 2020.

NIMS著者


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    作成時刻 :2020-12-04 03:00:18 +0900 更新時刻 :2021-09-28 22:25:24 +0900

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