HOME > 論文 > 書誌詳細Electrical conductivity measurement of silicon wire prepared by CVD(CVD法で作製したSiワイヤーの電気抵抗測定)Hiroshi Suzuki, Hiroshi Araki, Masahiro Tosa, Tetsuji Noda. Chemical Physics Letters 468 [4-6] 211-215. 2009.https://doi.org/10.1016/j.cplett.2008.11.090 NIMS著者鈴木 裕土佐 正弘Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 15:40:57 +0900更新時刻: 2024-05-02 06:22:49 +0900
