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著者名Jun Chen, Deren Yang, Zhenqiang Xi, Takashi Sekiguchi.
タイトルElectron-beam-induced current study of hydrogen passivation on grain boundaries in multicrystalline silicon: Influence of GB character and impurity contamination
掲載誌名Physica B: Condensed Matter 364 1-4 162 169
ISSN: 09214526
発表年2005
言語English
DOI10.1016/j.physb.2005.04.008
ESIでのカテゴリPHYSICS
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