HOME > Article > Detailピクセル型STEM検出器によるタイコグラフィーの初歩(Introduction to Electron Ptychography by Pixelated STEM Detector)三石 和貴, 中澤 克昭, 溝口 照康, 佐川 隆亮, 山崎 裕一. 顕微鏡 31-37. 2021.https://doi.org/10.11410/kenbikyo.56.1_31 NIMS author(s)MITSUISHI, KazutakaYAMASAKI, YuichiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2021-12-23 15:42:39 +0900Updated at: 2024-04-02 06:59:29 +0900