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著者名YAMASHITA, Yoshiyuki, CHIKYOW, Toyohiro, Keisuke Kobayashi.
タイトルBias-voltage application in a hard X-ray photoelectron spectroscopic study of the interface states at oxide/Si(100) interfaces
掲載誌名SPring-8 Research Frontiers 2013 2013 54-55
発表年2014
言語English
ESIでのカテゴリ

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