G. J. Verbiest; H. Janssen; D. Xu; X. Ge; M. Goldsche; J. Sonntag; T. Khodkov; L. Banszerus; N. von den Driesch; D. Buca; K. Watanabe; T. Taniguchi; C. Stampfer

doi:10.1063/1.5089207

Integrated impedance bridge for absolute capacitance measurements at cryogenic temperatures and finite magnetic fields

著者	G. J. Verbiest, H. Janssen, D. Xu, X. Ge, M. Goldsche, J. Sonntag, T. Khodkov, L. Banszerus, N. von den Driesch, D. Buca, K. Watanabe, T. Taniguchi, C. Stampfer.
掲載誌名	Review of Scientific Instruments 90 [8] 084706 ISSN: 00346748, 10897623 ESIでのカテゴリ: CHEMISTRY
出版社	AIP Publishing
発表年	2019
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1063/1.5089207
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