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著者名Jun Chen, Takashi Sekiguchi, Jianyong Li, Shun Ito, Wei Yi, Atsushi Ogura.
タイトルInvestigation of dislocations in Nb-doped SrTiO3 by electron-beam-induced current and transmission electron microscopy
掲載誌名Applied Physics Letters 106 10 102109
ISSN: 10773118 00036951
発表年2015
言語English
DOI10.1063/1.4915298
ESIでのカテゴリPHYSICS
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