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Highly-crystalline 6 inch free-standing GaN observed using X-ray diffraction topography

CrystEngComm 23 [7] 1628-1633. 2021.

NIMS著者


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    作成時刻 :2021-02-25 03:00:18 +0900 更新時刻 :2021-09-30 03:23:22 +0900

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