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著者名Raman Bekarevich, Kazutaka Mitsuishi, Tsuyoshi Ohnishi, Takaaki Mano, Fumihiko Uesugi, Masaki Takeguchi.
タイトルAccurate determination of strains at layered materials by selected area electron diffraction mapping
掲載誌名Japanese Journal of Applied Physics 58 SI SIIA03
発表年2019
言語English
DOI10.7567/1347-4065/ab19ac
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