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著者名Y. Toyoshima, K. Horiba, M. Oshima, J. Ohta, H. Fujioka, H. Miki, S. Ueda, Y. Yamashita, H. Yoshikawa, K. Kobayashi.
タイトルAnalysis of ITO/Mg:GaN interfaces by synchrotron radiation hard X-ray photoemission spectroscopy and their electrical characteristics
掲載誌名Applied Surface Science 255 [5] 2149-2152
ISSN: 01694332
発表年2008
言語English
ESIでのカテゴリMATERIALS SCIENCE
DOIhttps://doi.org/10.1016/j.apsusc.2008.07.050
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