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Detecting band profiles of devices with conductive atomic force microscopy

Ranran Li, Takashi Taniguchi, Kenji Watanabe, Jiamin Xue.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2020-07-21 19:42:01 +0900更新時刻: 2024-07-03 05:04:56 +0900

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