Detecting band profiles of devices with conductive atomic force microscopy

著者	Ranran Li, Takashi Taniguchi, Kenji Watanabe, Jiamin Xue.
掲載誌名	Review of Scientific Instruments 91 [7] 073702 ISSN: 00346748, 10897623 ESIでのカテゴリ: CHEMISTRY
出版社	AIP Publishing
発表年	2020
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1063/5.0008412
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