Detecting band profiles of devices with conductive atomic force microscopy
著者 | Ranran Li, Takashi Taniguchi, Kenji Watanabe, Jiamin Xue. |
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掲載誌名 | Review of Scientific Instruments 91 [7] 073702 ISSN: 00346748, 10897623 ESIでのカテゴリ: CHEMISTRY |
出版社 | AIP Publishing |
発表年 | 2020 |
言語 | English |
DOI | https://doi.org/10.1063/5.0008412 |
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