SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

オペランド硬X線光電子分光法によるSiO2/4H-SiC界面の界面準位のエネルギー分布観測
(Direct Observation of the Energy Distribution of Interface States at SiO2/4H-SiC Interface: Operando Hard X-ray Photoelectron Spectroscopic Study)

山下 良之, 蓮沼 隆, 長田 貴弘, 知京 豊祐.
表面科学 38 [7] 347-350. 2017.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-07-21 22:57:03 +0900更新時刻: 2024-07-02 05:26:12 +0900

    ▲ページトップへ移動