SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 詳細

Multiple-probe scanning probe microscopes for nanoarchitectonic materials science

著者Tomonobu Nakayama, Yoshitaka Shingaya, Masakazu Aono.
掲載誌名Japanese Journal of Applied Physics 55 [11] 1102A7
ISSN: 13474065, 00214922
ESIでのカテゴリ: PHYSICS
出版社Japan Society of Applied Physics
発表年2016
言語English
DOIhttps://doi.org/10.7567/jjap.55.1102a7
この文献をMendeleyにインポートMendeley

▲ページトップへ移動