HOME > 論文 > 書誌詳細Multiple-probe scanning probe microscopes for nanoarchitectonic materials scienceTomonobu Nakayama, Yoshitaka Shingaya, Masakazu Aono. Japanese Journal of Applied Physics 55 [11] 1102A7. 2016.https://doi.org/10.7567/jjap.55.1102a7 NIMS著者中山 知信新ヶ谷 義隆青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2016-12-03 23:07:31 +0900 更新時刻 :2020-11-16 22:38:23 +0900