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Interface trap characterization of Al2O3/GaN vertical-type MOS capacitors on GaN substrate with surface treatments

Bing Ren, Masatomo Sumiya, Meiyong Liao, Yasuo Koide, Xinke Liu, Yue Shen, Liwen Sang.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2019-03-01 12:15:44 +0900 更新時刻 :2021-03-10 00:54:20 +0900

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