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著者名Masatomo Sumiya, Naoki Toyomitsu, Yoshitaka Nakano, Jianyu Wang, Yoshitomo Harada, Liwen Sang, Takashi Sekiguchi, Tomohiro Yamaguchi, Tohru Honda.
タイトルDeep-level defects related to the emissive pits in thick InGaN films on GaN template and bulk substrates
掲載誌名APL Materials 5 1 016105
ISSN: 2166532X
発表年2017
言語English
DOI10.1063/1.4974935
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