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著者名Teruhisa Ootsuka, Takashi Suemasu, Jun Chen, Takashi Sekiguchi.
タイトルEvaluation of minority-carrier diffusion length in n-type β-FeSi2 single crystals by electron-beam-induced current
掲載誌名Applied Physics Letters 92 4 042117
ISSN: 00036951 10773118
発表年2008
言語English
DOI10.1063/1.2835904
ESIでのカテゴリPHYSICS
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