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Thickness dependence of phase stability in epitaxial (HfxZr1−x)O2 films

Takanori Mimura, Takao Shimizu, Osami Sakata, Hiroshi Funakubo.
Physical Review Materials 5 [11] 114407. 2021.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2021-12-15 03:37:24 +0900更新時刻: 2024-07-06 07:25:21 +0900

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