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著者名T. Nagata, O. Bierwagen, M. E. White, M. Y. Tsai, Y. Yamashita, H. Yoshikawa, N. Ohashi, K. Kobayashi, T. Chikyow, J. S. Speck.
タイトルXPS study of Sb-/In-doping and surface pinning effects on the Fermi level in SnO2 (101) thin films
掲載誌名Applied Physics Letters 98 [23] 232107
ISSN: 00036951 0168583X 10773118
発表年2011
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.3596449
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