右図は，ナノインデンテーション技術の概要とハイスループット測定の例を示している。100 nm以下の押込深さで荷重―変位曲線が得られ，水平方向は1μm以下の非常の小さな領域を対象とすることができる。併設された走査プローブ顕微鏡を用いることにより，数10 nm程度の精度で測定位置を選択することが可能である。試料表面の広い範囲に対して自動多点測定を行うことにより，多様な組成や組織に対して網羅的な測定をハイスループットで行うことが可能である。ナノインデンテーションデータを基にした逆解析によって，各測定点に対応した応力ーひずみ関係を得ることも可能である。

左図は，走査電子顕微鏡(TEM)その場変形解析の概略を示したものである。荷重―変位の力学データを同時に取得できることが特徴であり，TEM観察の動画と同期させることによって転位の動的挙動と力学応答の関係を直接的に知ることが可能である。この技術を用いて，転位性格による易動度や転位密度と流動応力の関係，転位ー粒界相互作用，変形中の粒界形成の観察などに成功している。この技術を用いることにより，微視的組織因子による強化機構の詳細を解明することが可能で，材料開発の新しい指針を得ることができる。