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Analysis of distribution of critical current of bent-damaged Bi2223 composite tape
(曲げ損傷を受けたBi2223複合テープの臨界電流の分布解析)

S Ochiai, H Okuda, M Sugano, M Hojo, K Osamura, T Kuroda, H Kumakura, H Kitaguchi, K Itoh, H Wada.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-02-27 02:10:06 +0900 更新時刻 :2017-03-17 04:18:16 +0900

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