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著者名謝栄国, SEKIGUCHI, Takashi, CHEN, Jun, 楊徳仁, 伊藤俊.
タイトルComparison of Grain Boundaries in Multicrystalline Si Ingot and Artificial Grain Boundaries in Bonded Si Wafers
発表誌名Proc. of the 4th International Symposium on Advanced Science and Technology of Silicon Materials
発表年2004
言語English

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