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著者名BEKAREVICH, Raman, MITSUISHI, Kazutaka, OHNISHI, Tsuyoshi, UESUGI, Fumihiko, TAKEGUCHI, Masaki.
タイトルNovel electron microscopy method for accurate measurements of the lattice constant changes in layered structures
発表誌名Journal of Surface Analysis
発表年2019
言語English

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