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著者名 | BEKAREVICH, Raman, MITSUISHI, Kazutaka, OHNISHI, Tsuyoshi, UESUGI, Fumihiko, TAKEGUCHI, Masaki. |
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タイトル | Novel electron microscopy method for accurate measurements of the lattice constant changes in layered structures |
発表誌名 | Journal of Surface Analysis |
発表年 | 2019 |
言語 | English |