Utilization of Scanning SQUID Microscopy for Characterization of Superconducting Thin Films
(走査SQUID顕微鏡による超伝導薄膜評価法)
| 著者 | ARISAWA, Shunichi, YUN, Kyungsung, IGUCHI, Ienari, HATANO, Takeshi, Kazuhiro Endo, Tamio Endo. |
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| 発表誌名 | Proceedings of ICCE21, Tenerife |
| 発表年 | 2013 |
| 言語 | English |