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著者名Tachibana Tomihisa, Sameshima Takashi, Kojima Takuto, Arafune Koji, Kakimoto Koichi, MIYAMURA, Yoshiji, HARADA, Hirofumi, SEKIGUCHI, Takashi, Ohshita Yoshio, Ogura Atshushi.
タイトルSTUDY OF CRYSTALLINE DEFECT GENERATION CAUSED BY LIGHT ELEMENT IMPURITIES IN SILICON SUBSTRATE
発表誌名Technical digest of PVSEC-21
発表年2011
言語English

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