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著者名Ohyanagi Takasumi, CHEN, Bin, SEKIGUCHI, Takashi, Yamaguchi Hirotaka, Hirofumi Matsuhata.
タイトルEBIC Analysis of Breakdown Failure Point in 4H-SiC PiN Diodes
発表誌名MATERIALS SCIENCE FORUM
発表年2009
言語English

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