(Charged Defects Reduction in Gate Insulator with Multivalent Materials)
2009 VLSI Symposia. 2009年06月15日-2009年06月17日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 05:47:26 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:31:58 +0900