HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Charged Defects Reduction in Gate Insulator with Multivalent Materials)M. Kouda, 梅澤 直人, K. Kakushima, P. Ahmet, K. Shiraishi, 知京 豊裕, K. Yamada, H. Iwai. 2009 VLSI Symposia. 2009.NIMS著者知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:47:26 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:31:58 +0900