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著者名SEKIGUCHI, Takashi, MIYAMURA, Yoshiji, CHEN, Jun, JIPTNER, Karolin, PRAKASH, Ronit Roneel, LI, Jian-Yong, Ogura Atsushi, HARADA, Hirofumi.
タイトルCharacterization of mono-like Si ingots for PV application by using EBIC, XRT, IR
会議名Beam Injection Assessment on Microstructures in Semiconductors
発表年2012
言語English
外部での文献参照

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