縦型pinダイオードi層におけるμτ積の評価
(Mobility-lifetime products of intrinsic-layer in diamond vertical pin diode)
OIST Diamond Workshop 2017. 2017.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-10-18 22:52:55 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:14:05 +0900