HOME > 口頭発表 > 書誌詳細シリコン表面酸化中の表面応力変動におよぼす表面不均一性の効果(Effect of Surface Disorder on the Surface Stress of Si(100)during Oxidation)成島哲也(筑波大), 板倉 明子, 河辺隆也, 北島 正弘, 成島哲也(筑波大), 河辺隆也. Third International Symposium on Control of Semiconductor Interf. 1999年10月25日-1999年10月29日.NIMS著者板倉 明子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:36:32 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:56:41 +0900