HOME > Presentation > DetailSiO2/Si 試料の電子線損傷に関するVAMASラウンドロビン試験結果(Summary of the VAMAS Round-Robin Test for Practical Analyses on the Electron Beam Damage to SiO2/Si Specimens)田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. ECASIA 2011. 2011.NIMS author(s)KIMURA, TakashiIWAI, HideoOGIWARA, ToshiyaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 04:53:12 +0900Updated at: 2017-07-10 21:09:40 +0900