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著者名A. Gray, J. Son, J. M. LeBeau, UEDA, Shigenori, YAMASHITA, Yoshiyuki, C. J. Powell, S. Stemmer, C. S. Fadley.
タイトルElectronic properties of LaNiO3 Mott interfaces via hard X-ray photoemission
会議名VUVX 2010
発表年2010
言語English
外部での文献参照

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