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(Valence states of off-stoichiometric thin films based on the Heusler compound Co2MnSi)

X. Kozina, S. Ouardi, G. Stryganyuk, B. Balke, S. Chadov, G. H. Fecher, C. Felser, T. Ishikawa, T. Uemura, M. Yamamoto, 池永英司, 山下 良之, 上田 茂典, 小林 啓介.
HAXPES 2011. 2011.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2017-02-14 10:53:15 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:08:03 +0900

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