HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Electron holography combined with a stage-scanning system)竹口 雅樹, 三石 和貴, Dan Lei, 下条 雅幸. IUMAS-V: 5th International Union of Microbeam Analysis Societies. 2011. 招待講演NIMS著者竹口 雅樹三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:30:31 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:43:29 +0900