Point Defect Characterization in InGaN by Using Monoenergetic Positron Beams

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上殿明良, T. Watanabe, S. Kimura, Y. Zhang, ロザックミカエル, サンリウエン, S. Ishibashi, N. Oshima, R. Suzuki, 角谷正友.

12th Inter. Conf. on Atomically Contr. Surface, Interfaces & Nan. 2013年11月04日-2013年11月08日.

作成時刻: 2017-01-08 04:08:47 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:49:11 +0900