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Point Defect Characterization in InGaN by Using Monoenergetic Positron Beams

著者上殿明良, T. Watanabe, S. Kimura, Y. Zhang, ロザック ミカエル, サン リウエン, S. Ishibashi, N. Oshima, R. Suzuki, 角谷 正友.
会議名12th Inter. Conf. on Atomically Contr. Surface, Interfaces & Nan
発表年2013
言語Japanese

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