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著者名Akira Uedono, T. Watanabe, S. Kimura, Y. Zhang, LOZACH, Mickael, SANG, Liwen, S. Ishibashi, N. Oshima, R. Suzuki, SUMIYA, Masatomo.
タイトルPoint Defect Characterization in InGaN by Using Monoenergetic Positron Beams
会議名12th Inter. Conf. on Atomically Contr. Surface, Interfaces & Nan
発表年2013
言語English
外部での文献参照

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