走査型マイクロ波顕微鏡によるシリコン基板上BaxSr1-yTiO3薄膜の誘電率特性の高速評価
(The dielectric characterization of the combinatorial synthesized sample libraries by scanning microwave microscope)
第43回応用物理学関係連合講演会（平成13年春季応用物理学会）. 2001年03月28日-2001年03月31日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 05:12:59 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:13:49 +0900