斜出射EPMA法による銅基合金中のサブミクロン析出物含有元素のX線マッピング
(Grazing Exit Electron Probe Microanalysis of Submicrometer Precipitates in a Copper base Alloy)
2003年度 実用表面分析講演会. 2003年11月17日-2003年11月18日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:15:19 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:52:22 +0900