HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Defect-free luminescence from ZnO nanoparticles fabricated by ion implantation and thermal oxidation)雨倉 宏, 梅田 直樹, 佐久間 芳樹, 岸本 直樹, Ch. Buchal. The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors. 2005.NIMS著者雨倉 宏佐久間 芳樹岸本 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:46:25 +0900更新時刻: 2018-05-30 19:28:57 +0900