HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Defect-free luminescence from ZnO nanoparticles fabricated by ion implantation and thermal oxidation)雨倉 宏, 梅田 直樹, 佐久間 芳樹, 岸本 直樹, Ch. Buchal. The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors. 2005年07月24日-2005年07月29日.NIMS著者雨倉 宏佐久間 芳樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:46:25 +0900 更新時刻: 2018-05-30 19:28:57 +0900