ＣｅＯ2を用いたＳＯＩ構造ーCeO2/Si界面の電気特性の評価ー
(Electorical characterization of ＣｅＯ2/Ｓi inteface for ＳＯＩ structure )
１９９４年（平成６年）秋季,第５５回応用物理学会学術講演会. 1994年09月19日-1994年09月22日.
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作成時刻: 2017-02-18 00:52:17 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:29:54 +0900