HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Crystal Structure Analysis Using Annular Dark-Field Imaging with High Precision)木本 浩司, 石塚 和夫, 斎藤 光浩, 長井 拓郎, 于 秀珍, 解 栄軍, 廣崎 尚登, 松井 良夫. Microscopy & Microanalysis 2009. 2009.NIMS著者木本 浩司長井 拓郎廣崎 尚登松井 良夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:25:32 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:33:12 +0900