細胞培養後の生体用金属材料表面のTOF-SIMS測定
(TOF-SIMS Investigation of Metallic Material Surfaces after Culturing Cells)
The 14th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrom. 2003年09月14日-2003年09月19日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-18 03:18:47 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:42:38 +0900