HOME > 口頭発表 > 書誌詳細酸化亜鉛の欠陥構造に関する拡散係数による評価(Evaluation of defect structures in ZnO with solid state diffusion analyses)両見 春樹, 坂口 勲, 大橋 直樹, 菱田 俊一, 羽田 肇. 2005年秋季 第66回応用物理学会学術講演会. 2005.NIMS著者坂口 勲大橋 直樹菱田 俊一羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:57:10 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:23:32 +0900